SAM-Head TI干涉實驗(電壓源刺激)-後處理

SAM-Head TI干涉實驗(電壓源刺激)-後處理
1.      選擇Stimulation,選項卡中選擇Simulation Combinerr

 

2.選擇Simulation Combiner,可以在Controller視窗對四個電極的電勢和相位進行設置,選擇Overall Field,點擊EM Sensor Combiner

 

3.  選擇Overall Field->EM E(x,y,z,f0),可以選擇Suface Viewer和Slice Viewer兩種類型的場強分佈圖

 

4.圖中為人頭模型在兩對兒電極刺激下,表面的場強分佈圖

 

5.圖中為人頭模型在TI干涉實驗中內部的場強分佈圖,可以在Slice Option選項中先擇需要看的平面(xy,xz,yz)和具體位置(Slice index)
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